Puerto de barrido direccionable SCANSTA111MT/NOPB, 7 bits, 1 puertos, alimentación 3 → 3,6 V, 48 pines TSSOP

Código de producto RS: 796-8152PMarca: Texas InstrumentsNúmero de parte de fabricante: SCANSTA111MT/NOPB
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Documentos Técnicos

Especificaciones

Número de Entradas de Elemento

7

Número de Elementos por Chip

1

Tipo de montaje

Montaje superficial

Tipo de Encapsulado

TSSOP-16

Conteo de Pines

48

Dimensiones

12.6 x 6.2 x 1.05mm

Longitud

12.6mm

Profundidad

6.2mm

Altura

1.05mm

Tensión de Alimentación Máxima de Funcionamiento

3.6 V

Temperatura máxima de funcionamiento

+85 °C.

Tensión de Alimentación de Funcionamiento Mínima

3 V

Temperatura de Funcionamiento Mínima

–40 °C

Rango de Tensión de Alimentación de Funcionamiento

3 → 3.6 V

Rango de Temperatura de Operación

-40 → +85 °C

Datos del producto

Puerto JTAG direccionable, Texas Instruments

El SCANSTA111 de Texas Instruments amplía el estándar IEEE Bus de prueba 1149.1 en un entorno de bus de prueba multidrop con las ventajas de un rendimiento de prueba y la capacidad de eliminar una placa del sistema conservando al mismo tiempo el acceso de prueba a los módulos del sistema restantes. Cada dispositivo admite hasta tres anillos de exploración IEEE 1149.1 locales que se pueden combinar en serie o acceder de forma individual. El contador de 32 bits TCK permite realizar operaciones de autodiagnóstico integradas en un puerto mientras que al mismo tiempo se prueban otras cadenas de exploración.

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1

Tipo de montaje

Montaje superficial

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TSSOP-16

Conteo de Pines

48

Dimensiones

12.6 x 6.2 x 1.05mm

Longitud

12.6mm

Profundidad

6.2mm

Altura

1.05mm

Tensión de Alimentación Máxima de Funcionamiento

3.6 V

Temperatura máxima de funcionamiento

+85 °C.

Tensión de Alimentación de Funcionamiento Mínima

3 V

Temperatura de Funcionamiento Mínima

–40 °C

Rango de Tensión de Alimentación de Funcionamiento

3 → 3.6 V

Rango de Temperatura de Operación

-40 → +85 °C

Datos del producto

Puerto JTAG direccionable, Texas Instruments

El SCANSTA111 de Texas Instruments amplía el estándar IEEE Bus de prueba 1149.1 en un entorno de bus de prueba multidrop con las ventajas de un rendimiento de prueba y la capacidad de eliminar una placa del sistema conservando al mismo tiempo el acceso de prueba a los módulos del sistema restantes. Cada dispositivo admite hasta tres anillos de exploración IEEE 1149.1 locales que se pueden combinar en serie o acceder de forma individual. El contador de 32 bits TCK permite realizar operaciones de autodiagnóstico integradas en un puerto mientras que al mismo tiempo se prueban otras cadenas de exploración.

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