Puerto de barrido direccionable SCANSTA111MT/NOPB, 7 bits, 1 puertos, alimentación 3 → 3,6 V, 48 pines TSSOP
Documentos Técnicos
Especificaciones
Brand
Texas InstrumentsNumber of Element Inputs
7
Número de Elementos por Chip
1
Tipo de montaje
Surface Mount
Tipo de Encapsulado
SOIC
Conteo de Pines
48
Dimensiones del Cuerpo
12.6 x 6.2 x 1.05mm
Longitud:
12.6mm
Profundidad
6.2mm
Altura
1.05mm
Tensión de Alimentación Máxima de Funcionamiento
3.6 V
Máxima Temperatura de Funcionamiento
+85 °C.
Tensión de Alimentación de Funcionamiento Mínima
3 V
Temperatura de Funcionamiento Mínima
-40 ºC
Rango de Tensión de Alimentación de Funcionamiento
3 → 3.6 V
Rango de Temperaturas de Funcionamiento
-40 → +85 °C
Datos del producto
Puerto JTAG direccionable, Texas Instruments
El SCANSTA111 de Texas Instruments amplía el estándar IEEE Bus de prueba 1149.1 en un entorno de bus de prueba multidrop con las ventajas de un rendimiento de prueba y la capacidad de eliminar una placa del sistema conservando al mismo tiempo el acceso de prueba a los módulos del sistema restantes. Cada dispositivo admite hasta tres anillos de exploración IEEE 1149.1 locales que se pueden combinar en serie o acceder de forma individual. El contador de 32 bits TCK permite realizar operaciones de autodiagnóstico integradas en un puerto mientras que al mismo tiempo se prueban otras cadenas de exploración.
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SOIC
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Dimensiones del Cuerpo
12.6 x 6.2 x 1.05mm
Longitud:
12.6mm
Profundidad
6.2mm
Altura
1.05mm
Tensión de Alimentación Máxima de Funcionamiento
3.6 V
Máxima Temperatura de Funcionamiento
+85 °C.
Tensión de Alimentación de Funcionamiento Mínima
3 V
Temperatura de Funcionamiento Mínima
-40 ºC
Rango de Tensión de Alimentación de Funcionamiento
3 → 3.6 V
Rango de Temperaturas de Funcionamiento
-40 → +85 °C
Datos del producto
Puerto JTAG direccionable, Texas Instruments
El SCANSTA111 de Texas Instruments amplía el estándar IEEE Bus de prueba 1149.1 en un entorno de bus de prueba multidrop con las ventajas de un rendimiento de prueba y la capacidad de eliminar una placa del sistema conservando al mismo tiempo el acceso de prueba a los módulos del sistema restantes. Cada dispositivo admite hasta tres anillos de exploración IEEE 1149.1 locales que se pueden combinar en serie o acceder de forma individual. El contador de 32 bits TCK permite realizar operaciones de autodiagnóstico integradas en un puerto mientras que al mismo tiempo se prueban otras cadenas de exploración.
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